Etude de la compatibilite electromagnetique des systemes electroniques
Editeur(s) : PRESSES ACADEMIQUES FRANCOPHONES
L'objectif principal de ces travaux de recherche est le développement d'une approche de modélisation permettant une meilleure prédiction des interférences électromagnétiques (IEMs) entre les éléments les plus perturbateurs d'une carte électronique et les interconnexions en champ proche. La méthodologie proposée est divisée en deux principales tâches: la modélisation des émissions rayonnées 3D et la prédiction du couplage électromagnétique (EM) entre les structures rayonnantes et les interconnexions (ou lignes de transmission) de types conducteurs au-dessus d'un plan de masse et lignes microrubans.
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Indisponible provisoirement chez l'éditeur
89,90 €
Ean :
9783838143118
Date de parution :
05/10/2015
Format et Reliure :
Grand format
Pages :
224